Kanmaz, I. Et Al. 2020. Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate. 1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi , (Erzurum, Turkey).

Kanmaz, I., GÜZELDİR, B., & ÜZÜM, A., (2020). Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate . 1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi, Erzurum, Turkey

Kanmaz, Imran, Betül GÜZELDİR, And ABDULLAH ÜZÜM. "Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate," 1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi, Erzurum, Turkey, 2020

Kanmaz, Imran Et Al. "Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate." 1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi , Erzurum, Turkey, 2020

Kanmaz, I. GÜZELDİR, B. And ÜZÜM, A. (2020) . "Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate." 1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi , Erzurum, Turkey.

@conferencepaper{conferencepaper, author={Imran Kanmaz Et Al. }, title={Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate}, congress name={1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi}, city={Erzurum}, country={Turkey}, year={2020}}