Structural Characterization of InSe:Zn Layer Semiconductor Grown by Bridgman/Stockbarger Technique

GÜRBULAK B., Ashkhasi A., ŞATA M., Özçelik F. Ş., DUMAN S.

IPCAP 2016, International Physics Conference at the Anatolian Peak, 02-PP03 S:164, 25-27 February/2016 Erzurum/Türkiye., 25 - 27 Şubat 2016

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet