Determination of The Structural Properties of Nio and Al and Zn Dopped Nio Thin Films Grown by Radio Frequency Spurtering Technique (Rf) and Application of Gas Sensor

TURGUT E., SARITAŞ S., HABASHYANİ s., GÜR E., YILDIRIM M.

2nd International Conference on Physical Chemistry and Functional Materials (PCFM’19), Nevşehir, Türkiye, 25 - 27 Temmuz 2019, ss.45-51

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Nevşehir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.45-51
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet