DETERMINATION OF THE STRUCTURAL PROPERTIES OF NiO AND Al AND Zn DOPPED NiO THIN FILMS GROWN BY RADIO FREQUENCY SPUTTERİNG TECHNIQUE (RF) AND GAS SENSOR APPLICATION

TURGUT E., sevda s., GÜR E., YILDIRIM M., YEŞİLYAPRAK C.

PCFM 2019 Kapadokya, 25 Temmuz - 27 Eylül 2019, ss.45-51

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Sayfa Sayıları: ss.45-51
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet