An Eager Regression Method Based on Best Feature Projections
14th International Conference on Industrial and Engineering Applications of Artificial Intelligence and Expert Systems, IEA/AIE 2001, 4 - 07 Haziran 2001, cilt.2070, ss.217-226, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Cilt numarası: 2070
- Sayfa Sayıları: ss.217-226
- Atatürk Üniversitesi Adresli: Hayır