Structural characterization of aluminum induced polycrystalline silicon films

---

kılıçerkan g., CANDAN İ., GÜLLÜ H. H., TURAN R., ERTUĞRUL M.

9th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013

• Yayın Türü: Bildiri
• Basıldığı Şehir: Erzurum
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet