Structural characterization of aluminum induced polycrystalline silicon films

kılıçerkan g., CANDAN İ., GÜLLÜ H. H., TURAN R., ERTUĞRUL M.

9th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet