Characterization Antimony and Fluorine Doped Tin Oxide Thin Films With XRD, SEM and FTIR Dependent On Substrate Temperatures

BATTAL A., TATAR D., KOÇYİĞİT A., DÜZGÜN B.

International Semiconductor Science and Technology Conference, 13 - 15 Ocak 2014, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet