Characterization Antimony and Fluorine Doped Tin Oxide Thin Films With XRD, SEM and FTIR Dependent On Substrate Temperatures

---

BATTAL A., TATAR D., KOÇYİĞİT A., DÜZGÜN B.

International Semiconductor Science and Technology Conference, 13 - 15 Ocak 2014, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet