Comparison of the as deposited NiCr2O4:Al and NiO:AlThin Films Together withDevices Grown By Radio Frequency Sputtering Technique

SARITAŞ S., TURGUT E., YILDIRIM M., GÜR E.

3rd International Conference on AdvancedEngineering Technologies, Bayburt, Türkiye, 19 - 21 Eylül 2019, ss.1221-1225

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Bayburt
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.1221-1225
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet