Comparison of the as deposited NiCr2O4:Al and NiO:AlThin Films Together withDevices Grown By Radio Frequency Sputtering Technique

---

SARITAŞ S., TURGUT E., YILDIRIM M., GÜR E.

3rd International Conference on AdvancedEngineering Technologies, Bayburt, Türkiye, 19 - 21 Eylül 2019, ss.1221-1225, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Şehir: Bayburt
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.1221-1225
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet