Characterization of Ti ve Nb Doped DLC Films Grown by Pulseddc PVD-Closed Field Unbalanced Magnetron Sputtering CFUBMS) Method
ASME /STLE International Joint Tribology Conferance, San Diago, Amerika Birleşik Devletleri, 22 - 24 Ekim 2007, ss.1, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: San Diago
- Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
- Sayfa Sayıları: ss.1
- Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet