Characterization of capacitance-voltage properties ofAg/n-Si/Ti, AuAg/n-Si/Ti and AuAgCu/n-Si/Ti Schottky diodes at room temperatıure

---

Taşer A., Orhan Z., Aykaç C., GÜZELDİR B., SAĞLAM M.

II. International Conference on Advanced Engineering Technologies (ICADET 2017), 21 - 23 Eylül 2017, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet