ANALYSIS OF BARRIER HEIGHT AND SERIES RESISTANCE INCu/CuO/n-TYPE Si STRUCTURES IN WIDE TEMPERATURE RANGE

KARATAŞ Ş., EJDERHA K., BAKKALOĞLU Ö. F., EFEOĞLU H., TURUT A.

2nd INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, Ardahan, Türkiye, 28 - 30 Ağustos 2018, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Şehir: Ardahan
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet