ANALYSIS OF BARRIER HEIGHT AND SERIES RESISTANCE INCu/CuO/n-TYPE Si STRUCTURES IN WIDE TEMPERATURE RANGE

KARATAŞ Ş., EJDERHA K., BAKKALOĞLU Ö. F., EFEOĞLU H., TURUT A.

2nd INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, Ardahan, Türkiye, 28 - 30 Ağustos 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ardahan
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet