ANALYSIS OF BARRIER HEIGHT AND SERIES RESISTANCE INCu/CuO/n-TYPE Si STRUCTURES IN WIDE TEMPERATURE RANGE


KARATAŞ Ş., EJDERHA K., BAKKALOĞLU Ö. F. , EFEOĞLU H. , TURUT A.

2nd INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, Ardahan, Türkiye, 28 - 30 August 2018

  • Basıldığı Şehir: Ardahan
  • Basıldığı Ülke: Türkiye