EFFECTS OF THERMAL ANNEALING ON DIODE PARAMETERS FROM C-VMEASUREMENTS OF THE Cd/CdS/n-GaAs/In AND Cd/CdSe/n-GaAs/InSTRUCTURES

YILDIRIM F., Orhan Z., GÜZELDİR B., SAĞLAM M.

MAS INTERNATIONAL CONFERENCEON MATHEMATICS-ENGINEERING-NATURALMEDICAL SCIENCES-V, 2 - 05 Mayıs 2019, ss.622-634

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Sayfa Sayıları: ss.622-634
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet