Analysis of four-point bending test for Nb, Ta, and V-doped CrYN thin films deposited by closed-field unbalanced magnetron sputtering

---

Yaylalı B., Gülten G., Yeşilyurt M., Totik Y., Kulczyk-Malecka J., Kelly P., ...Daha Fazla

51th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films (ICMCTF 2025), California, Amerika Birleşik Devletleri, 11 - 16 Mayıs 2025, ss.1-3, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: California
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Sayfa Sayıları: ss.1-3
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet