EFFECTS OF THERMAL ANNEALING ON DIODE PARAMETERS FROM C-V MEASUREMENTS OF THE Cd/CdS/n-GaAs/In AND Cd/CdSe/n-GaAs/In STRUCTURES
MAS INTERNATIONAL CONFERENCE ON MATHEMATICS-ENGINEERING-NATURAL&MEDICAL SCIENCES-V, Erzurum, Türkiye, Erzurum, Türkiye, 2 - 05 Mayıs 2019, ss.622-0, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Erzurum
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.622-0
- Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet