EFFECTS OF THERMAL ANNEALING ON DIODE PARAMETERS FROM C-V MEASUREMENTS OF THE Cd/CdS/n-GaAs/In AND Cd/CdSe/n-GaAs/In STRUCTURES

Yıldırım F., Orhan Z., Güzeldir B., Sağlam M.

MAS INTERNATIONAL CONFERENCE ON MATHEMATICS-ENGINEERING-NATURAL&MEDICAL SCIENCES-V, Erzurum, Türkiye, Erzurum, Türkiye, 2 - 05 Mayıs 2019, ss.622-0

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.622-0
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet