Effects of The Thermal Annealing On Electrical Characteristics Of Zn/ZnSe/n-GaAs/ln Structure

SAĞLAM M., GÜZELDİR B., Ateş A.

World Congress on Engineering and Technology (CET), Shangai, Çin, 28 Ekim - 02 Kasım 2011, ss.20-24, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Shangai
  • Basıldığı Ülke: Çin
  • Sayfa Sayıları: ss.20-24
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet