Effects of Aging on the Electrical Properties of Au/n-Si/Ti, Cu/n-Si/Ti and AuCu/n-Si/Ti Schottky Diodes

TAŞER A., ORHAN Z., AYKAÇ C., ÖZAKIN O., GÜZELDİR B., SAĞLAM M.

2nd International Congress on Semiconductor Materials and Devices (ICSMD-2018), 28-30 August 2018, Ardahan University, Ardahan, TURKEY, 28 - 30 Ağustos 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet