The effects of thermal annealing on the electrical characteristics of Ag/p–Si/Al diode


ŞENARSLAN E., Ahmet T., GÜZELDİR B., SAĞLAM M.

ICANAS, 18 - 21 Nisan 2017

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet