The investigation of current conduction mechanisms in Cu/CuO/n-type Si Structures as temperature dependence

BAKKALOĞLU Ö. F., EJDERHA K., EFEOĞLU H., TURUT A., KARATAŞ Ş.

2nd INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, 28 - 30 Ağustos 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet