The investigation of current conduction mechanisms in Cu/CuO/n-type Si Structures as temperature dependence

---

BAKKALOĞLU Ö. F., EJDERHA K., EFEOĞLU H., TURUT A., KARATAŞ Ş.

2nd INTERNATIONAL CONGRESS ON SEMICONDUCTOR MATERIALS AND DEVICES, 28 - 30 Ağustos 2018, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet