Growth and characterization of InGaN thin films on Si (111) substrate by RF magnetron sputtering: N2 gas flow effect


ERDOĞAN E., KUNDAKÇİ M., KASAPOĞLU A. E., GÜR E.

American Journal Of Physics, 2018 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Basım Tarihi: 2018
  • Doi Numarası: 10.1063/1.5026007
  • Dergi Adı: American Journal Of Physics
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet