Growth and characterization of InGaN thin films on Si (111) substrate by RF magnetron sputtering: N2 gas flow effect
American Journal Of Physics, 2018 (SCI-Expanded, Scopus)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Basım Tarihi: 2018
- Doi Numarası: 10.1063/1.5026007
- Dergi Adı: American Journal Of Physics
- Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
- Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet