Elektrokimyasal büyütme yöntemi ile elde edilen ZnO ince filmlerin elektriksel ve optiksel özellikleri üzerinde yüksek enerjili elektron bombardımanının etkisi.


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Atatürk Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalı, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2010

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Pınar Köç

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): Sebahattin TÜZEMEN

Özet:

Bu çalışmada, ZnO İnce filmlerin bazı elektriksel ve optiksel özellikleri incelenmiştir. Filmler, elektrokimyasal büyütme yöntemi ile (ECD) p-tipi GaAs taban malzeme üzerinde -0,9 V ile -1,2 V aralığında 4 farklı potansiyel değerlerinde elde edilmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden, elde edilen filmlerin hekzagonal yapıda tek kristale yakın oldukları gözlemlenmiştir. XRD sonuçlarına bakılarak, tercihli yöneliminin şiddetinin büyütme esnasında uygulanan potansiyel değere bağlı olarak değiştiği sonucuna ulaşılmıştır. Atomik kuvvet mikroskopu (AFM) yardımı ile yüzey incelemesi yapılmış büyüyen filmin kalınlığı, yüzey pürüzlülüğü görsel olarak gözlemlenmiştir. Daha sonra aynı numuneler yüksek enerjili elektron bombardımanına maruz bırakılarak tekrar radyasyon sonrası XRD sonuçları alınmıştır. Pik şiddetinin azalmasının yanı sıra, radyasyon sonrası AFM görüntülerinden yüzey pürüzlülüğünün de azaldığı gözlemlenmiştir. Ayrıca radyasyon öncesi ve radyasyon sonrası alınan I-V grafiklerinden idealite ve turn on potansiyelinin azaldığı belirlenmiştir.