Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Atatürk Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Nanobilim ve Nanomühendislik Anabilim Dalı, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2014
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: Süheyla GÜLLÜLÜ
Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): Hasan Efeoğlu
Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
Özet:Bu çalışmada radyo frekans magnetron saçtırma ve termal buharlaştırma yöntemiyle Al/TiO2/p++Si yapısı oluşturuldu ve memristiv özelliği araştırıldı. İlk kısımda 400°C'de tavlanan numunenin memristiv özelliği ve tarama hızının memristiv davranışına olan etkisi incelendi. İkinci kısımda ise farklı altlık sıcaklıklarında büyütülen titanyum dioksit nanofilmlerin memristiv özellikleri I-V ölçümleri ile incelendi. Araştırmanın sonunda eldeki veriler yardımıyla +Q ve -Q yükleri hesaplanarak analiz yapıldı.