Ag ve Cd katkılı ve katkısız Mn3o4 ince filmlerin SILAR yöntemiyle büyütülmesi ve süperkapasitör uygulamalarının araştırılması

---

Tezin Türü: Doktora

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Atatürk Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalı, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2023

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: MANSUR ALBAYRAK

Danışman: Muhammet Yıldırım

Özet:

Amaç: Bu çalışmanın amacı Ag-Cd katkılı ve katkısız Mn3O4 ince filmlerin SILAR yöntemiyle büyütülmesinin incelenmesi ve süperkapasitör uygulamalarının literatür araştırması yapılarak detaylı bir şekilde açıklanmasıdır. Yöntem: Bu çalışmada, Mn3O4 ince filmleri SILAR yöntemi kullanılarak ITO taban malzeme üzerine oda sıcaklıklağında büyütülmüştür. Yapısal analiz için SEM-EDX, XRD, Raman ve optik özellikleri için de Optik Soğurma Yöntemi ile deneysel olarak belirlenmiştir. Ayrıca bu malzemelerin kapasitif özellikleri, galvanostatik şarj/deşarj (GCD) ve döngüsel voltametri (CV) testi ile incelenmiştir. Bulgular: XRD analizinden, ince filmlerin kübik yapıya sahip olduğu tespit edilmiştir. SEM görüntüleri, SILAR yöntemi ile büyütülen ince filmlerin tanecikli periyodik yapıda büyüdüğünü ve hemen hemen homojen olduğunu göstermiştir. Optoelektronik aygıtlar için çok önemli bir parametre olan optik bant aralığı için soğurma ölçümleri değerlerine bakılmıştır. Ayrıca EDX tekniği ile bileşikteki elementlerin eksiksiz olarak ve numunelerin kapasitif özellik gösterdiği tespit edilmiştir. Sonuç: SILAR yöntemi ile büyütülen numulerin katkı oranlarının değiştirilmesinin malzemenin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri üzerine etkileri değerlendirilmiş ve analiz edilmiştir. Katkısız Mn3O4 ince film numunesinin spesifik kapasitans değeri, 1 A g-1 akım yoğunluğunda yaklaşık değeri 230 F g-1 olarak bulundu ve artan katkı miktarıyla da bu değerin arttığı gözlenmiştir.