Bazı bileşiklerde foton çoğalma faktörünün saçılma açısı ve numune kalınlığı ile değişiminin incelenmesi
Tezin Türü: Doktora
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Atatürk Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalı, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2011
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: Aytaç LEVET
Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): Yüksel ÖZDEMİR
Özet:Bu çalışmada, bazı kimyasal bileşiklerde, farklı foton enerjileri için toplam saçılma açısını ve numune kalınlığını deği ç tirerek Enerji Dispersive X-Işını Floresans spektroskopisi (EDXRF) sisteminde foton oğalma faktörleri hesaplanmıştır. Se ş tiğimiz bileşikler, yaptığımız geniş kapsamlı literatür taramasında bulunmayan bilesjklerden oluşturmaktadır.Çalışmamızın birinci bölümünde V_4 O_2, NaCO_3 H_2 O,Fe [(NO_3)] _3,SrCl_2 6H_2 O,MoS_2,C_6 H_5 FeO_7 H_2 O, H_2 [Cl] _2 O_2 Zr,CuCl, [Co(SCN)] _2 bileşikleri için çapları 2,0 mm, 3,6 mm, 7,4 mm, 8,9 mm, 14,4 mm olan 5 kolimatör ve enerji kaynakları olarak (_^241)Am, (_^137)Ba ve (_^157)Gd kaynakları kullanılmıştır. Bu deneysel çalışmada her ölçüm üç kez tekrarlanarak foton çoğalma faktörünün değişimi incelenmiştir. Elde edilen sonuçlar, literatürde mevcut olan sonuçlar ile kar§ilaştırılmı ş tır. Elde edilen veriler, radyasyon zırhlama parametreleri açısından nasıl değiştiği tartı§ilmıştır.Çalışmamızın ikinci bölümünde, CaO_2,Mg [Cl] _2,Ni [Cl] _2,V_3 O_2 bileşiklerinin kalınlıkları değiştirilerek foton çoğalma faktörünün değişimi incelenmiştir. Ölçümler, 0,43 mm-3,95 mm aralığında beş farklı kalınlık için yapılmış olup enerji kaynağı olarak (_^241)Am ve (_^109)Cd kaynakları kullanılmıştır. Elde edilen sonuçlar, radyoterapide X-ışını dozunun doğru olarak belirlenmesi ve radyasyonu azaltmak için kullanılan zırhlama tekniğindeki, zırh kalınlığının nasıl değişmesi gerektiği tartışılmıştır.Anahtar Kelimeler: Foton çoğalma faktörü, EDXRF, kimyasal bileşikler, toplam saçılmaaçısı.