In-Situ X-ray diffraction studies of the structure of nitride thin films under various temperatures

EFEOĞLU İ., ÇELİK A., Arnell D.

ICMCTF99, Int. Conf. on Metallurgical Coatings and Thin Films9, San Diago, Amerika Birleşik Devletleri, 12 - 15 Nisan 1999, ss.1

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: San Diago
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.1
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet