F. E. CİMİLLİ ÇATIR, M. SAĞLAM and A. TÜRÜT, The Effect Of Annealing On The Electrical Characterization Of Cu/n Type InP Schottky Diodes I-V Measurements As A Function Of Sample Tempertature
International Physics Conference At The Anatolian Peak (IPCAP 2016), Erzurum, Türkiye, 25 - 27 Şubat 2016, ss.98, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Erzurum
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.98
- Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet