F. E. CİMİLLİ ÇATIR, M. SAĞLAM and A. TÜRÜT, The Effect Of Annealing On The Electrical Characterization Of Cu/n Type InP Schottky Diodes I-V Measurements As A Function Of Sample Tempertature

SAĞLAM M.

International Physics Conference At The Anatolian Peak (IPCAP 2016), Erzurum, Türkiye, 25 - 27 Şubat 2016, ss.98

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.98
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet