Electrical Characterization of Au Fe3O4 p Si Al Rectifier Devices Depending on X Ray Radiation Dos

DENİZ A. R., ÇALDIRAN Z., ŞAHİN Y., HATİCE K., ŞİNOFOROĞLU M., AYDOĞAN Ş.

International Semiconductor Science and Technology Conference 2015., 11 - 13 Mayıs 2015

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet