In-Situ X-ray diffraction studies of the structure of nitride thin films under various temperatures
ICMCTF99, Int. Conf. on Metallurgical Coatings and Thin Films9, San Diago, Amerika Birleşik Devletleri, 12 - 15 Nisan 1999, ss.1, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: San Diago
- Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
- Sayfa Sayıları: ss.1
- Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet