Determination of the Structural Properties of NiCr2O4 and Ti Dopped NiCr2O4 Thin Films Grown byRadio Frequency Sputtering Technique (RF) and Gas Sensor Application

TURGUT E., SARITAŞ S., YILDIRIM M., GÜR E.

3rd International Conference on AdvancedEngineering Technologies, Bayburt, Türkiye, 19 - 21 Eylül 2019, ss.1226-1229

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Bayburt
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.1226-1229
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet