Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate

Kanmaz I., GÜZELDİR B., ÜZÜM A.

1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi, Erzurum, Türkiye, 24 - 25 Kasım 2020

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Atatürk Üniversitesi Adresli: Evet