Prof. Dr. Hasan EFEOĞLU

Atatürk Üniversitesi, Fen Fakültesi, Fizik, Türkiye

University of Manchester Institute of Science and Technology (UMIST), Elektronik, Birleşik Krallık

Atatürk Üniversitesi, Fen Bilimleri, Fizik, Türkiye

Structural, Optical and Electrical Characterization of MBE Grown Erbium Doped GaAs, Si and SixGe1-x

University Of Manchester Institute Of Science And Technology (Umıst), Department Of Electrical Engineering And Electronics, Centre For Electronic Materials

DC metoduyla Hall ve Özdirenç ölçme sistemi ve n tipi Si için özdirenç ve mobilitenin tayini

Atatürk Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalı